Tloušťkoměr vrstev Leptoskop®

Provedení: Všestranný tloušťkoměr vrstev s externí sondou, precizní měřicí technikou a možností k rychlému rozšíření přímo v místě provozu pomocí přístupových kódů (softwarové moduly „Statistika“ a „Paměť dat“). Velký grafický podsvícený displej (48 x 24 mm), velký výběr sond. Měřicí rozmezí 0-20000 µm (závisí na sondě), 10 jazykových nastavení, rozhraní USB-/RS232 a pryžový ochranný rám. Provozní doba baterií, cca. 100 hodin. Dodáváme s Fe-sondou do 5000 µm, kontrolním tělesem, sadou kalibračních fólií, návodu k provozu, kolaudačním protokolem/certifikátem kontrolní kvality, měřicím protokolem, odbornou literaturou a 2 mignon bateriemi AA/LR06, 1,5 V, v plastovém kufříku.

Nepřesnost měření (po kalibraci):
Tloušťka vrstvy < 100 µm: 1 % naměřené hodnoty ± 1 µm
Tloušťka vrstvy > 100 µm: 1-3 % naměřené hodnoty ± 1 µm
Tloušťka vrstvy > 1000 µm: 3-5 % naměřené hodnoty ± 10 µm
Tloušťka vrstvy > 10000 µm: 5 % naměřené hodnoty ± 100 µm

Použití: Detekce tloušťky nemagnetických vrstev na magnetizovatelném substrátem (Fe, v souladu s DIN EN ISO 2178) a tloušťky nevodivých vrstev na vodivém základním materiálu dle metody vířivého proudu (NFe, v souladu s DIN EN ISO 2360).